GB-T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
點(diǎn)擊次數(shù)：2570 更新時間：2012-10-22
GB-T 2423.33-2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法
試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
GB-T 2423的第33部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。
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